应力筛选规范列表 应力筛选规范: MIL-202C-106、107 电子及电器部件试验方法标准 MIL-781 可靠性试验方法手册 HB/Z213 机载电子设备环境应力筛选指南 HB6206 机载电子设备环境应力筛选方法 JESD22-A109-A 器密试验方法 TE000-AB-GTP-020 环境应力筛选要求与海军电子设备应用 CFR-Title 47-Chapter I-68.302 美国联邦通讯委员会环境仿真 GJB/Z34 电子产品定量环境应力筛选指南 HB/Z213 组件级环境应力筛选 温度循环: EC 68-2-14 温度变化 MIL-STD-2164 电子设备环境应力筛选方法=GJB1032-1990 GJB1032-1990 电子设备环境应力筛选方法 DOD-HDBK-344 电子设备环境应力筛选=GJB/Z34-1993 NABMAT-9492 美军海军制造筛选 JIS C5030 热循环试验 零件预烧试验: MIL-STD-883,Method 1008 预烧 MIL-STD-883,Method 1015 (IC类预烧) MIL-STD-750,Method 1038 (二极管类预烧) MIL-STD-750,Method1039 晶体管类预烧) MIL-STD-883,Method 1010 温度循环 MIL-M-38510 军用微型电路的一般规格 MIL-S-19500 半导体器件要求和特点 系统预烧: MIL-781 可靠性设计鉴定与生产接收试验 MIL-810 美国军标环境工程考虑和实验室试验原创作者:广东宏展科技有限公司 |